×

Вы используете устаревший браузер Internet Explorer. Некоторые функции сайта им не поддерживаются.

Рекомендуем установить один из следующих браузеров: Firefox, Opera или Chrome.

Контактная информация

+7-863-218-40-00 доб.200-80
ivdon3@bk.ru

Физические основы и результаты исследования поглощения в тонких пленках германия при легировании их кремнием

Аннотация

Новикова Ю.А., Терещенко Г.В.

Дата поступления статьи: 23.04.2022

Приведены теоретические соотношения, которые служат для оценивания поглощающих свойств тонких оптических пленок с использованием функций, определяющих огибающие интерференционных экстремумов в спектре пропускания тонкой оптической пленки на плоскопараллельной прозрачной подложке, а также экспериментальные результаты оценки потерь в инфракрасном диапазоне в пленках Ge, которые легированы Si.

Ключевые слова: интерференция, поглощение, оптика, пленка, показатель преломления

01.04.02 -Теоретическая физика

01.04.05 - Оптика

.